半導體半自動化瑕疵檢測設備

紫外線檢測燈SL8803T

365nm紫外線
便攜手持式

晶圓瑕疵檢測燈SL9300

黃/綠/白光
便攜
鵝頸軟管

Wafer晶圓表面顆粒缺陷檢查燈SL8500

桌面式
黃綠光/白光

wafer晶圓顆粒缺陷檢查燈SL8600

桌面/手持式
高亮度30LX，黃綠/白光
半導體檢查

半導體wafer晶圓缺陷表面檢查燈SL8900

桌面式
黃綠光/白光
半導體檢查

晶片晶圓表面缺陷檢測燈SL8804-GY

桌面式
4個LED
半導體材料檢查

wafer晶圓表面瑕疵檢查燈SL8904-H

手持式
4個LED
晶圓晶片瑕疵檢查

半導體材料表面測試系統SL8804GT-BDT016

表面檢查燈+工業(yè)相機
自動化表面檢查系統

懸掛式表面檢查燈SL8103-G

懸掛式/桌面式
3個led